TS系列冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber
*冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設備特點
規格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設備還可提供標準高低溫試驗功能，實現了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發泡絕熱材料- 確保將熱量散失減??；
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環境保護要求；
*冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
*溫度控制
可實現溫度定值控制和程序控制；
全程數據記錄儀（可選功能）可以實現試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調節壓縮機制冷功率，較傳統的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關鍵配件均采用，使設備的整體質量得到了提升和保證；
*冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 **裝備實驗室環境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 **裝備實驗室環境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 **裝備實驗室環境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
主要技術指標:
兩箱式高低溫沖擊試驗箱
型號
CTS-50
CTS-120
CTS-180
HxWxD(mm)
內
300x460x350
500x610x400
600x660x450
外
2250x1200x1950
2720x1050x1950
2920x1100x2150
性能參數
高溫室
溫度暴露范圍
﹢60℃ ～ ﹢200℃
預熱溫度上限
200℃
升溫時間
R.T→﹢200℃約40min
低溫室
溫度暴露范圍
0 ～ ﹣75℃
預熱溫度下限
﹣75℃
降溫時間
R.T→﹣70℃約60min
提籃
溫度范圍
﹣65 ～ 150℃
溫度波動度
≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170﹣1996表示）
溫度偏差
≤±2℃（﹣65℃ ～ ﹢150℃）
轉換時間
≤5S
溫度回復時間
≤5min
結構
外箱材質
冷軋鋼板表面噴塑（象牙白）
內箱材質
#304鏡面不銹鋼（1.2mm）
隔熱材料
非危廢類環保型玻璃纖維保溫層
制冷
制冷方式
風冷或水冷
制冷機
進口壓縮機
溫度傳感器
鎧裝鉑電阻
控制器
西門子PLC模塊（含宏展環境試驗設備嵌入式PLC控制軟件PlatinumV1.0）+7英寸彩色液晶觸摸控制屏（含宏展環境試驗設備嵌入式觸摸屏控制軟件PlatinumV1.0）。
數據存儲于功能接口
USB數據接口：設備帶有USB存儲接口，存儲信息包括試驗時間、試驗目標值和試驗實測值等主要運行參數，存儲格式為.csv格式，此文件可由宏展公司上位機通訊軟件直接生產曲線，該USB接口不支持熱插拔及下載功能，如要用U盤存儲試驗數據，需一直讓U盤處于正常聯接狀態。
TCP/IP通訊接口：試驗箱帶有RJ45數據接口，后期如購買上位機通訊功能后（含宏展環境試驗設備嵌入式計算機軟件PlatinumV1.0），即可聯接此接口以實現計算機管理功能，單臺試驗箱支持5臺計算機同時訪問、上位機軟件*大可管理32臺試驗箱。
裝機功率（KVA）
19.7
32
36
電源
AC380V 50Hz三相四線制+接地線
標配配置
產品使用說明書、試驗報告1份、合格證及質量保證書各1份、隔板2層、帶腳輪
滿足標準
GJB150.3、GJB150.4、GJB150.5、GB/T2423.1、GB/T2423.2
詳細參數以對應產品規格書為準
| 三箱式冷熱沖擊試驗箱 | ||||||
| 型號 | TSL-80A | TSL-150A | TSL-225A | TSL-408A | ||
| TSU-80W | TSU-150W | TSU-225W | TSU-408W | |||
| TSS-80W | TSS-150W | TSS-225W | TSS-408W | |||
| 內部尺寸（mm） | W | 500 | 600 | 750 | 850 | |
| H | 400 | 500 | 500 | 600 | ||
| D | 400 | 500 | 600 | 800 | ||
| 外形尺寸（mm） | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | |
| H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | ||
| D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | ||
| 試驗方式 | 氣動風門切換2溫室或3溫室方式 | |||||
| 性能 | 高溫室 | 預熱溫度范圍 | ﹢60℃ ～ ﹢200℃ | |||
| 升溫速率 | ﹢60→＋200℃≤20分鐘 | |||||
| 低溫室 | 預冷溫度范圍 | ﹣78－0℃ | ||||
| 降溫速率 | ﹢20→－75℃≤80分鐘 | |||||
| 試驗室 | 溫度偏差 | ±2℃ | ||||
| 溫度范圍 |
TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
|
|||||
| 溫度恢復時間 | 5分鐘以內 | |||||
| 試樣擱架承載能力（kg） | 30 | |||||
| 試樣重量（kg） | 7.5 | 7.5 | 10 | 10 | ||
| 注：外形尺寸（不包括外形凸起部分）；升溫速率和降溫速率（溫度上升和溫度下降均為試驗箱單獨運轉時的性能）；溫度恢復條件（室溫為＋25℃和循環水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路） | ||||||
| 詳細參數以對應產品規格書為準 | ||||||
冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber
|
試驗規范
|
駐留溫度(℃)
(exposure temp.) |
駐留溫度時間(Min)
(exposure time) |
覆歸時間
(recovery time) |
周期
或次數 |
試驗起
始點 |
備注
|
適用機臺型號
TS-(80/150/225/408) |
||||||||
|
高溫
|
室溫
|
低溫
|
高溫/低溫
|
室溫
|
S
|
U
|
L
|
||||||||
|
MIL-STD-883E
(Method No.1010.7) |
+85
|
+10
|
----
|
-55
|
0
|
≧10min
≦15min |
----
|
含駐留時間&
轉換時間≦15min |
*少
10次 |
低溫或
高溫 |
Temperature Cycling
(轉換時間<1min) 實驗過程若中斷 超過總實驗之1/10 次則實驗須重做 |
◎
|
◎
|
----
|
|
|
0
|
|||||||||||||||
|
+125
|
+15
|
◎
|
◎
|
----
|
|||||||||||
|
0
|
-10
|
||||||||||||||
|
+150
|
+15
|
◎
|
◎
|
----
|
|||||||||||
|
0
|
|||||||||||||||
|
+150
|
+15
|
-65
|
0
|
◎
|
.
|
----
|
|||||||||
|
0
|
-10
|
||||||||||||||
|
MIL-STD-202F
(Method No.107G) |
+83
|
+3
|
-25
|
+10
|
-55
|
0
|
28g以下
15～30 Min 28～136g 30Min 136g～1.36Kg 60Min 1.36～13.6Kg 120Min 13.6~136Kg 240Min |
Max.
5 Min |
5 Min 以內
|
5 cycle
25 50 100 |
低溫
|
Transfer time
不超過5 min |
◎
|
◎
|
◎
|
|
0
|
-3
|
||||||||||||||
|
+125
|
+3
|
-65
|
0
|
◎
|
◎
|
----
|
|||||||||
|
0
|
-5
|
-5
|
|||||||||||||
|
+125
|
+3
|
-65
|
0
|
◎
|
◎
|
----
|
|||||||||
|
0
|
-5
|
||||||||||||||
|
JIS C 0025
IEC 68-2-14 GB 2423.22 |
+70
+85
+100
+125
|
±2
±2
±2
±2
|
室溫
|
-5
-10
-25
-40
-55
-65
|
±3
±3 ±3 ±3 ±3 ±3 |
3hr
2hr 1hr 30min 或無定義則 以3hr定義 |
手動轉
移時間 2～3Min |
為駐留時間
之1/10 |
5 cycle
除非有 其它規格 |
低溫
|
Auto
Transfer time 不超過30 sec 小試件 Transfer time 不超過10 sec |
★
|
★
|
★
|
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|||||||||||||
|
◎
|
◎
|
◎
|
|||||||||||||
|
◎
|
◎
|
◎
|
|||||||||||||
|
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|||||||||||
|
|
|
◎
|
◎
|
----
|
|||||||||||
|
IPC 2.6.7
|
+70
|
±2
|
----
|
0
|
+0
|
15 Min
|
----
|
2 Min 以內
|
100 cycle
|
高溫
(試驗結束 點在高溫) |
Transfer time
不超過2 min |
★
|
★
|
★
|
|
|
-0
|
-5
|
||||||||||||||
|
+85
|
+5
|
-40
|
+0
|
◎
|
◎
|
◎
|
|||||||||
|
-0
|
-5
|
||||||||||||||
|
+105
|
+5
|
-55
|
+0
|
◎
|
◎
|
．
|
|||||||||
|
-0
|
-5
|
||||||||||||||
|
+105
|
+5
|
-65
|
+0
|
．
|
．
|
----
|
|||||||||
|
-0
|
-5
|
||||||||||||||
|
+105
|
+5
|
|
|
．
|
．
|
----
|
|||||||||
|
-0
|
|||||||||||||||
|
IPC 2.6.6
|
+85
|
+3
|
-25
|
+10
|
-55
|
+0
|
30 Min
|
10-15
Min |
|
5 cycle
|
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
|
-0
|
-5
|
||||||||||||||
|
+125
|
+3
|
-5
|
-65
|
+0
|
◎
|
◎
|
----
|
||||||||
|
-0
|
-5
|
||||||||||||||
|
Bellcore
GR-1221-CORE |
+70
|
±2
|
----
|
|
≧10min
≦15min |
----
|
含駐留時間
&轉換時間≦15min |
500 cycle
OR 1000cycle |
|
|
◎
|
◎
|
◎
|
||
|
|
|||||||||||||||
|
+80
|
±2
|
◎
|
◎
|
◎
|
|||||||||||
|
|
|||||||||||||||
|
JESD22
A104-A |
+125
|
+10
|
|
-40
|
+0
|
≦15min
|
|
含駐留時間
&轉換時間≦15min |
抽10次
可接受; 1000次 合格 |
|
Temperature
Cycling (轉換時間<1min) 實驗過程若中斷 超過總實驗之1/10 次則實驗須重做 |
◎
|
◎
|
◎
|
|
|
-0
|
-10
|
||||||||||||||
|
+85
|
+10
|
-55
|
+0
|
◎
|
◎
|
．
|
|||||||||
|
-0
|
|||||||||||||||
|
+125
|
+10
|
||||||||||||||
|
-0
|
-10
|
||||||||||||||
|
+150
|
+10
|
||||||||||||||
|
-0
|
|||||||||||||||
|
+150
|
+10
|
-65
|
+0
|
◎
|
．
|
----
|
|||||||||